Término solicitado: IUZZOLINO, R./(22)
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Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Actualización del interferómetro NPL-TESA AGI 1/300 |
Autor: | Díaz, N.; Iuzzolino, R.; Álvarez, L. |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14, Buenos Aires. AR, 2022 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2022. |
Pág./Vol.: | pag. varias: tbls.; fot. |
Unidad técnica: | INTI-Departamento de Óptica y Dimensional; INTI-Departamento de Metrología Cuántica. |
Descriptores: | Interferómetros; Modernización; Software; Instrumentos de medición; Metrología; Sistema Internacional de Unidades; Patrones |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Trilateral South-American project: a reference system for measuring electric power up to 100 kHz – progress report II |
Autor: | Kyriazis, G. A.; Di Lillo, L.; Slomovitz, D.; Iuzzolino, R.; Yasuda, E.; Trigo, L.; de Souza, R. M.; Laiz, H.; Debatin, R. M.; Afonso, E. |
Reunión: | Brazilian Congress on Metrology, 9, Fortaleza-BR, 2017 |
Título Ser./Col.: | Journal of Physics: Conference Series, 975 |
Autor Inst. Ser./Col.: | Institute of Physics. IOP. Londres. AR |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. IOP. 2018. |
Pág./Vol.: | 5p. |
Descriptores: | Sistema interamericano de mediciones; Mediciones electricas; Argentina; Brasil; Uruguay; Latinoamérica |
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Trabajo de INTI |
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URL: |
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/975/1/012072 |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Actualización del hardware y software de un interferómetro para la calibración interferométrica de bloques patrón |
Autor: | Giarmana, G.; Iuzzolino, R. |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2015. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 12, Buenos Aires. AR, 2015 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2015. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y metrología. |
Descriptores: | Interferómetro; Bloques; Patrones |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | informe |
Título: | Bilateral Comparison of 1.018 V and 10 V Standards between the INTI (Argentina) and the BIPM, August to October 2009 (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K11.a and b) |
Autor: | Bierzychudek, Marcos E.; Tonina, Alejandra; Iuzzolino, R.; Real, M.; Solve, S.; Chayramy, R.; Stock, M. |
Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Bureau International des Poids et Mesures. BIPM. Sèvres. FR |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. s.n. 2009. |
Pág./Vol.: | 20p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Voltaje; Mediciones; Temperatura; Presión atmosférica; Normalización; Metrología |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | artículo |
Título: | Comparison of the Josephson voltage standards of the INTI and the BIPM (part of the ongoing BIPM key comparison BIPM.EM-K10.a) |
Autor: | Solve, S.; Chayramy, R.; Stock, M.; Iuzzolino, R.; Tonina, A. |
Autor Instit.: | Bureau International des Poids et Mesures. BIPM. Sèvres. FR; INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR |
Título Ser./Col.: | Metrologia, 49, 01009 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | s.l. 2012. |
Pág./Vol.: | 16p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Mediciones eléctricas; Voltaje; Normas; Detectores; Incertidumbre; Resistencia eléctrica; Precisión |
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Trabajo de INTI |
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Disponibilidad: | Consulta in situ |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Evaluación de las incertidumbres de medición del sistema Josephson del INTI |
Autor: | Iuzzolino, R.; Melo, J.; Laiz, H.; Tischler, M. |
Autor Instit.: | Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, investigación aplicada, precompetitivo, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2002 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2002. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Unidad técnica: | DPMN. |
Descriptores: | Mediciones eléctricas; Incertidumbre; Amperio; Voltaje; Metrología; Errores; Calibración |
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Trabajo de INTI |
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Disponibilidad: | Consulta in situ |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Divisor inductivo binario controlado por computadora |
Autor: | Iuzzolino, R.; García, R.; Laiz, H. |
Autor Instit.: | Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires. AR; INTI-Física. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2002 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2002. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Unidad técnica: | DPMN; INTI-Física. |
Descriptores: | Mediciones eléctricas; Dispositivos eléctricos; Sistemas computarizados; Convertidores digital-analógico; Impedancia |
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Trabajo de INTI |
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Disponibilidad: | Consulta in situ |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Desarrollo de una llave de conmutación automática para la comparación de resistores patrones |
Autor: | Boaglio, C.; Laiz, H.; Iuzzolino, R.; Melo, J. |
Autor Instit.: | Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2002 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2002. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Unidad técnica: | DPMN. |
Descriptores: | Resistores; Patrones; Conmutación; Llaves; Resistencia eléctrica; Sistemas computarizados; Mediciones eléctricas; Incertidumbre |
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Trabajo de INTI |
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Disponibilidad: | Consulta in situ |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Desarrollo de un microvoltímetro vectorial |
Autor: | Iuzzolino, R.; Laiz, H.; García, R. |
Autor Instit.: | Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires. AR; INTI-Física. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2002 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2002. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Unidad técnica: | DPMN; INTI-Física. |
Descriptores: | Voltímetros; Instrumentos de medición; Mediciones; Impedancia; Señales; Procesamiento de señales; Amplificadores; Calibración |
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Trabajo de INTI |
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Disponibilidad: | Consulta in situ |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Puente para la medición de resistores patrones en corriente alterna |
Autor: | Iuzzolino, R.; Laíz, H.; García, R. |
Autor Instit.: | INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 5, Desarrollo e innovación tecnológica, metrología, autogenerado, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2004 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2004. |
Pág./Vol.: | 3p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Resistores; Puentes; Mediciones; Corriente alterna; Detección; Señales |
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Trabajo de INTI |
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Disponibilidad: | Consulta in situ |
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