Término solicitado: IZQUIERDO, DANIEL/(22)
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | SIM.EM-K3 : key comparison of 10 mH. Inductance standards at 1 kHz. Final report |
| Autor: | Izquierdo, Daniel; Moreno, José Ángel; Castro, Blanca Isabel; de Barros e Vasconcellos, Renata; Cazabat, Marcelo; Koffman, Andrew; Cote, Marcel |
| Título Ser./Col.: | Metrología, 53 |
| Autor Inst. Ser./Col.: | Bureau International des Poids et Mesures. BIPM. Paris. FR |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. IOP Publishing. 2016. |
| Pág./Vol.: | 60p. |
| Descriptores: | Sistema Interamericano de Metrología; Inductancia; Frecuencia; Inductores eléctricos; Metrología; Mediciones |
| Resumen: | A key comparison of 10 mH inductance standards at 1 kHz has been carried out with the participation of seven National Metrology Institutes of the Inter-American Metrology System, within the frame of the International Committee for Weights and Measures Mutual Recognition Arrangement (MRA), which was piloted by CENAM, Mexico. Three previously characterized commercial inductors, contained in individual enclosures with controlled temperature were used as traveling standards. This document presents the results and technical details of the comparison. |
 Ver Documento
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Trabajo de INTI |
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URL: |
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/0026-1394/53/1A/01002 |
| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | SIM.EM-S5 Voltage, current and resistance comparison |
| Autor: | Sanchez, Harold; Cioffi, Jorge; Kyriazis, Gregory; Ramos, Rodrigo; Martínez, Alexander; Montaluisa, Julio; González, Julio; Postigo, Henry; Hamilton, Francis; Elmquist, Rand; Zhang, Nien-fan; Izquierdo, Daniel |
| Autor Instit.: | Instituto Costarricense de Electricidad. ICE. San José. CR; INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMETRO. Rio de Janeiro. BR; Laboratorio Custodio Patrón Nacional de Magnitudes Eléctricas. LCPN-ME. Campus Universitario Universidad de Concepción. CL; Superintendencia de Industria y Comercio. SIC. Bogotá. CO; Centro de Metrología del Ejército Ecuatoriano. CMEE. Quito. EC; Centro Nacional de Metrología de Panamá. CENAMEP. Panama City. PA; Servicio Nacional de Metrología. SNM, INDECOPI. Lima. PE; Trinidad and Tobago Bureau of Standards. TTBS. TT; National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg. US; Administracion Nacional de Usinas y Trasmisiones Eléctricas. UTE. Montevideo. UY |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. IEEE. 2012. |
| Pág./Vol.: | p.566-567. |
| Notas: | Este artículo puede ser consultado completo por usuarios internos al INTI. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Sistema interamericano de metrología; Voltaje; Corriente eléctrica; Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Multímetros; Incertidumbre; Errores; Instrumentos de medición |
Trabajo de INTI |
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URL: |
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6251055 |
| Ubicación: | 4748 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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