Término solicitado: KYRIAZIS, GREGORY/(22)
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| Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
| Título: | Construcción de shunts para un wattímetro de muestreo de alta frecuencia |
| Autor: | Yasuda, Eliana; Di Lillo, Lucas; Kyriazis, Gregory |
| Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, TecnoINTI edición 2017. Jornadas Abiertas de Desarrollo, Innovación y Transferencia Tecnológica, 13, Buenos Aires. AR, 2017 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2017. |
| Pág./Vol.: | 2p. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Voltímetros; Potencia; Frecuencia |
 Ver Documento
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | SIM.EM-S5 Voltage, current and resistance comparison |
| Autor: | Sanchez, Harold; Cioffi, Jorge; Kyriazis, Gregory; Ramos, Rodrigo; Martínez, Alexander; Montaluisa, Julio; González, Julio; Postigo, Henry; Hamilton, Francis; Elmquist, Rand; Zhang, Nien-fan; Izquierdo, Daniel |
| Autor Instit.: | Instituto Costarricense de Electricidad. ICE. San José. CR; INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Instituto Nacional de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial. INMETRO. Rio de Janeiro. BR; Laboratorio Custodio Patrón Nacional de Magnitudes Eléctricas. LCPN-ME. Campus Universitario Universidad de Concepción. CL; Superintendencia de Industria y Comercio. SIC. Bogotá. CO; Centro de Metrología del Ejército Ecuatoriano. CMEE. Quito. EC; Centro Nacional de Metrología de Panamá. CENAMEP. Panama City. PA; Servicio Nacional de Metrología. SNM, INDECOPI. Lima. PE; Trinidad and Tobago Bureau of Standards. TTBS. TT; National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg. US; Administracion Nacional de Usinas y Trasmisiones Eléctricas. UTE. Montevideo. UY |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. IEEE. 2012. |
| Pág./Vol.: | p.566-567. |
| Notas: | Este artículo puede ser consultado completo por usuarios internos al INTI. |
| Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
| Descriptores: | Sistema interamericano de metrología; Voltaje; Corriente eléctrica; Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Multímetros; Incertidumbre; Errores; Instrumentos de medición |
Trabajo de INTI |
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URL: |
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?arnumber=6251055 |
| Ubicación: | 4748 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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