Término solicitado: REAL, MARIANO/(22)
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Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Generación de señales de espectro puro con el sistema Josephson pulsado |
Autor: | Iuzzolino, Ricardo; Pinto, Daniel; Real, Mariano; Tonina, Alejandra |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14, Buenos Aires. AR, 2022 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2022. |
Pág./Vol.: | pag. varias: grafs.; fot. |
Unidad técnica: | INTI-Departamento de Metrología Cuántica. |
Descriptores: | Generadores de señales; Generadores de pulsos; Superconductividad; Tensiones; Metrología |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | artículo |
Título: | Graphene epitaxial growth on SiC(0001) for resistance standards |
Autor: | Real, Mariano; Lass, Eric A.; Liu, Fan-Hung; Shen, Tian; Jones, George R.; Soons, Johannes A.; Newell, David B.; Davydov, Albert V.; Elmquist, Randolph E. |
Autor Instit.: | INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Institute of Electrical and Electronics Engineers. IEEE. New York. US |
Título Ser./Col.: | IEEE Transactions on instrumentation and measurement, Vol. 62, Nº 6, june 2013, pp.1454-1460 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. IEEE. 2013. |
Pág./Vol.: | 7p. |
Notas: | Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copywright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta". |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Difusión; Crecimiento; Morfología; Superficies; Grafito; Ensayos |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Graphene epitaxial growth on SiC(0001) for resistance standards |
Autor: | Real, Mariano; Shen, Tian; Jones, George R.; Elmquist, Randolph E.; Soons, Johannes A.; Davydov, Albert V. |
Autor Instit.: | National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg. US; INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Conference on precision electromagnetic measurements, Washington. US, 2012 |
Título Ser./Col.: | CPEM 2012 Conference, pp. 600-601 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. IEEE. 2012. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Notas: | Fuente: IEEE, de acuerdo a su política de copywright: "Los autores / empleadores pueden reproducir o autorizar a terceros a reproducir la Obra, material extraído literalmente de la Obra o trabajos derivados para el uso personal del autor o para uso de la empresa, siempre que se indique la fuente y el aviso de copyright de IEEE, no deben usarse las copias de ninguna manera que implique el respaldo de IEEE de un producto o servicio de cualquier empleador y las copias en sí no se ofrecen para la venta". |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Morfología; Superficies; Grafito; Ensayos |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Characteristics of graphene for quantized hall effect measurements |
Autor: | Elmquist, Randolph E.; Shen, Tian; Real, Mariano; Calizo, Irene G.; Bush, Brian G.; He, Guowei; Yang, Yanfei; Klimov, Nikolai; Newell, David B.; Hight-Walker, Angela R.; Feenstra, Randall M. |
Autor Instit.: | National Institute of Standards and Technology. NIST. Gaithersburg. US; INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; Carnegie-Mellon University. Pittsburgh. US; Georgetown University. Washington. US |
Reunión: | Conference on precision electromagnetic measurements, Washington. US, 2012 |
Título Ser./Col.: | CPEM 2012 Conference Digest, pp. 514-515 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Gaithersburg. US. NIST. 2012. |
Pág./Vol.: | 2p. |
Unidad técnica: | INTI-Física y Metrología. |
Descriptores: | Resistencia eléctrica; Mediciones eléctricas; Propiedades eléctricas; Propiedades físicas; Grafito; Ensayos |
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Trabajo de INTI |
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