Término solicitado: MUELLER, W.M./(22)
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| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Mueller, W.M.; Fay, M.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Application of X-Ray Analysis, 11, 1962 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1963. |
| Pág./Vol.: | 477p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Aplicaciones; Metales; Polímeros; Aleaciones; Petroleo; Minería |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 6/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Mueller, W.M.. ed. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 6, Denver. US, 1957 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1960. |
| Pág./Vol.: | 494p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Aplicaciones; Metales; Películas delgadas; Aleaciones |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 1/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Mueller, W.M.; Mallett, G.R.; Fay, M.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 13, Denver. US, 1964 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1965. |
| Pág./Vol.: | 472p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Polímeros; Algodón |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 8/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Mueller, W.M.; Mallett, G.R.; Fay, M.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 11, Denver. US, 1963 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1964. |
| Pág./Vol.: | 662p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Silicatos |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 7/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Mueller, W.M.. ed. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 9, Denver. US, 1960 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1961. |
| Pág./Vol.: | 568p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 4/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Mueller, W.M.. ed. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 8, Denver. US, 1959 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1960. |
| Pág./Vol.: | 376p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 3/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Mueller, W.M.. ed. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 7, Denver. US, 1958 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1960. |
| Pág./Vol.: | 359p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/ 2/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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