Término solicitado: ESPECTROSCOPIA DE RAYOS X/(65,175,265)
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Data analysis and filter optimization for pulse-amplitude measurement : a case study on high-resolution X-ray spectroscopy |
| Autor: | Mannatunga, Kasun Sameera; Valinoti, Bruno; Samayoa, Werner Florian; Crespo, Maria Liz; Cicuttin, Andres; Folla Kamdem, Jerome; Garcia, Luis Guillermo; Carrato, Sergio |
| Título Ser./Col.: | Sensors, 22(13) |
| Autor Inst. Ser./Col.: | Multidisciplinary Digital Publishing Institute. MDPI. Basilea. Suiza |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | s.l. MDPI. 2022. |
| Pág./Vol.: | 20p. |
| Descriptores: | Procesamiento de datos; Pulsos; Espectroscopia de rayos X; Filtros |
| Resumen: | In this study, we present a procedure to optimize a set of finite impulse response filter (FIR) coefficients for digital pulse-amplitude measurement. Such an optimized filter is designed using an adapted digital penalized least mean square (DPLMS) method. The effectiveness of the procedure is demonstrated using a dataset from a case study on high-resolution X-ray spectroscopy based on singlephoton detection and energy measurements. The energy resolutions of the Kα and Kβ lines of the Manganese energy spectrum have been improved by approximately 20%, compared to the reference values obtained by fitting individual photon pulses with the corresponding mathematical model. |
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Trabajo de INTI |
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URL: |
https://www.mdpi.com/1424-8220/22/13/4776 |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Characterisation of polymers |
| Autor: | Crompton, T.R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Shawbury. GB. RAPRA smithers. 2008. |
| Pág./Vol.: | 2v. |
| Notas: | Ejemplar en préstamo permanente a INTI-Caucho. |
| Descriptores: | Polímeros; Espectroscopía; Espectroscopía de absorción atómica; Plasma; Espectroscopía de masa; Microprocesadores; Metales; Polarografía; Voltametría; Iones; Cromatografía; Ensayos no destructivos; Espectroscopía de rayos X; Neutrones; Análisis; Catálisis; Espectrofotometría; No metales; Halógenos; Sulfuros; Nitrógeno; Oxígeno; Peróxidos; Fotometría; Copolímeros; Análisis de Fourier; Microscopios; Microscopios electrónicos; Pirólisis; Gases; Acetato de vinilo |
| Ubicación: | CITIC/678.7/C449 |
| Disponibilidad: | INTI-Caucho |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Polymer reference book |
| Autor: | Crompton, T.R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Shropshire. GB. RAPRA technology limited. 2006. |
| Pág./Vol.: | 704p. |
| Descriptores: | Polímeros; Metales; Espectroscopía; Espectroscopía de absorción atómica; Espectroscopía de masa; Microprocesadores; Voltametría; Iones; Cromatografía; Ensayos no destructivos; Rayos X; Espectroscopía de rayos X; No metales; Halógenos; Sulfuros; Carbono; Nitrógeno; Hidrógeno; Oxígeno; Combustión; Análisis de Fourier; Resonancia magnética nuclear; Gases; Pirólisis; Electroquímica; Agua; Performance; Líquidos; Polarografía; Temperatura; Lasers; Espectrofotometría; Rayos ultravioleta; Luminiscencia; Fluorescencia; Viscoelasticidad; Propiedades térmicas; Propiedades ópticas; Propiedades eléctricas; Propiedades químicas |
| Ubicación: | CITIC/678.7/C945 |
| Disponibilidad: | INTI-Caucho |
| Tipo de Docum.: | serie monográfica |
| Título: | The NBS alloy data center: permuted materials index |
| Autor: | Carter, G.C.; Kahan, D.J.; Bennett, L.H.; Cuthill, J.R.; Dobbyn, R.C. |
| Autor Instit.: | National Bureau of Standards. NBS. Washington. US |
| Título Ser./Col.: | NBS Special publication, 324 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Washington. US. NBS. 1971. |
| Pág./Vol.: | 685p. |
| Notas: | Donación INTI-Física. |
| Descriptores: | Normalización; Materiales; Propiedades eléctricas; Transporte; Propiedades magnéticas; Mecánica; Resonancia; Resonancia magnética nuclear; Sólidos; Teoría cuántica; Radiación electromagnética; Superconductividad; Termodinámica; Espectroscopía de rayos X; Terminos de indización; Aleaciones |
| Ubicación: | 53/54/U58s/Ser.324 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Forensic polymer engineering; why polymer products fail in service |
| Autor: | Rhys, Peter; Gagg, Colin |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Boca Ratón.FL, US; Cambridge, GB; New Dheli. IN. CRC Press, Woodhead Publishing Limited. 2010. |
| Pág./Vol.: | 476p. |
| Notas: | Ejemplar en préstamo permanente a INTI-Plásticos. |
| Descriptores: | Análisis forense; Polímeros; Ingeniería; Electrostática; Hidrógeno; Nuevos materiales; Elastómeros; Química; Oxidación; Hidrólisis; Rayos ultravioleta; Corrosión; Fisuras; Investigación; Metodología; Método experimental; Microscopía; Microscopía electrónica; Defectos de los materiales; Fatiga; Fricción; Desgaste; Moléculas; Muestreo; Cromatografía; Espectroscopía de rayos X; Resonancia magnética nuclear; Espectroscopía; Polímeros termoplásticos; Almacenamiento; Tanques; Contenedores; Baterias; PVC; Polibuteno; Resinas |
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| Ubicación: | 678.7/R479; CITIP/425 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Understanding XRF spectrometry; volumen 2. Quantitative analysis and special sample preparation and presentation methods |
| Autor: | Willis, James P.; Duncan, Andrew R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Almelo. NL. Panalytical. 2008. |
| Pág./Vol.: | pag. varía. |
| Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Propiedades; Análisis cuantitativo; Espectrómetros; Química; Espectroscopía; Fluorescencia; Espectros; Cristales; Cristalografía; Materiales; Excitación; Absorción; Concentración; Ecuaciones; Técnicas matemáticas; Muestreo; Análisis químico; Instrumentos de medición; Materiales; Geología; Técnicas de evaluación; Inteferencia; Ondas electromagnéticas |
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| Ubicación: | CEQUIPE/302/Lab. Metales |
| Disponibilidad: | INTI-Química |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Understanding XRF spectrometry; volumen 1. Basic concepts and instrumentation |
| Autor: | Willis, James P.; Duncan, Andrew R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Almelo. NL. Panalytical. 2008. |
| Pág./Vol.: | pag. varía. |
| Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Propiedades; Espectrómetros; Dispersión; Detección; Distribución; Altura; Pulsos; Energía; Absorción; Partículas; Química; Análisis cuantitativo; Muestreo; Análisis químico; Instrumentos de medición; Instrumentos de pesar; Unidades de medición; Longitud de onda; Fluorescencia; Espectros; Cristales; Cristalografía |
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| Ubicación: | CEQUIPE/301/Lab. Metales |
| Disponibilidad: | INTI-Química |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Surface analysis of paper |
| Autor: | Conners, Terrance E.; Banerjee, Sujit. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. CRC press. 1995. |
| Pág./Vol.: | 346p. |
| Descriptores: | Superficies; Análisis; Papel; Análisis microscópico; Microscopía electrónica; Propiedades físicas; Propiedades mecánicas; Propiedades fisicoquímicas; Pastas de madera; Brillo; Espectros de Raman; Espectroscopía; Espectros infrarrojos; Espectroscopía de rayos X |
| Ubicación: | CICELPA/626.017.28/C747 |
| Disponibilidad: | INTI-Celulosa y papel |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Organic chemistry |
| Autor: | Brown, William H. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Fort Worth, US. New York. Saunders College Publishing, Harcourt Brace College Publishers. 1995. |
| Pág./Vol.: | 1115p. |
| Descriptores: | Química orgánica; Moléculas; Estructura atómica; Alcanos; Acidos; Bases (Química); Olefinas; Alquinos; Isomerización; Alcoholes; Tiols; Eteres; Espectroscopía; Espectroscopía de masa; Espectroscopía de rayos X; Rayos infrarrojos; Rayos ultravioleta; Compuestos aromáticos; Benceno; Aldehídos; Cetonas; Carbohidratos; Acidos carboxilos; Aniones; Aminas; Lípidos; Aminoácidos; Proteínas; Acidos nucleicos; Propiedades físicas; Reacciones químicas |
| Ubicación: | CEQUIPE/14/Lab.Proc.Químicos |
| Disponibilidad: | CEQUIPE |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Understanding XRF spectrometry; a practical guide with worked examples. Volumen 2: Quantitative analysis and special sample preparation and presentation methods |
| Autor: | Willis, James P.; Duncan, Andrew R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Almelo. NL. Panalytical. 2008. |
| Pág./Vol.: | pag. varía. |
| Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Análisis cuantitativo; Espectrómetros; Química; Espectroscopía; Interferencia; Fluorescencia; Espectros; Cristales; Cristalografía; Trazas de sustancias; Normalización; Métodos de determinación; Errores; Límites de detección; Materiales; Ecuaciones; Concentración; Técnicas matemáticas; Absorción; Fusión; Boratos; Vidrios; Muestreo; Análisis químico; Instrumentos de medición; Geología; Software |
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| Ubicación: | CEQUIPE/302/Lab. Metales |
| Disponibilidad: | INTI-Química |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Understanding XRF spectrometry; a practical guide with worked examples. Volumen 1: Basic concepts and instrumentation |
| Autor: | Willis, James P.; Duncan, Andrew R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Almelo. NL. Panalytical. 2008. |
| Pág./Vol.: | pag. varía. |
| Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Espectrómetros; Longitud de onda; Dispersión; Detección; Distribución; Altura; Pulsos; Energía; Absorción; Matrices; Partículas; Análisis cuantitativo; Muestreo; Análisis químico; Instrumentos de medición; Unidades de medición |
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| Ubicación: | CEQUIPE/301/Lab. Metales |
| Disponibilidad: | INTI-Química |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | An introduction to X-ray spectrometry |
| Autor: | Jenkins, Ron |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | London. GB. Heyden. 1980. |
| Pág./Vol.: | 163p. |
| Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Propiedades físicas; Radiación; Difracción de rayos X; Dispersión; Espectrómetros; Cristales; Detección; Análisis cuantitativo |
| Ubicación: | Córdoba/543.42/J4151 |
| Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Characterisation of polymers |
| Autor: | Crompton, T.R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Shawbury. GB. RAPRA smithers. 2008. |
| Pág./Vol.: | 2v. |
| Notas: | Ejemplar en préstamo permanente a INTI-Caucho. |
| Descriptores: | Polímeros; Espectroscopía; Espectroscopía de absorción atómica; Plasma; Espectroscopía de masa; Microprocesadores; Metales; Polarografía; Voltametría; Iones; Cromatografía; Ensayos no destructivos; Espectroscopía de rayos X; Neutrones; Análisis; Catálisis; Espectrofotometría; No metales; Halógenos; Sulfuros; Nitrógeno; Oxígeno; Peróxidos; Fotometría; Copolímeros; Análisis de Fourier; Microscopios; Microscopios electrónicos; Pirólisis; Gases; Acetato de vinilo |
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| Ubicación: | 678.7/C945 |
| Disponibilidad: | INTI-Caucho |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Polymer reference book |
| Autor: | Crompton, T.R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Shropshire. GB. RAPRA technology limited. 2006. |
| Pág./Vol.: | 704p. |
| Notas: | Ejemplar en préstamo permanente a INTI-Caucho. |
| Descriptores: | Polímeros; Metales; Espectroscopía; Espectroscopía de absorción atómica; Espectroscopía de masa; Microprocesadores; Voltametría; Iones; Cromatografía; Ensayos no destructivos; Rayos X; Espectroscopía de rayos X; No metales; Halógenos; Sulfuros; Carbono; Nitrógeno; Hidrógeno; Oxígeno; Combustión; Análisis de Fourier; Resonancia magnética nuclear; Gases; Pirólisis; Electroquímica; Agua; Performance; Líquidos; Polarografía; Temperatura; Lasers; Espectrofotometría; Rayos ultravioleta; Luminiscencia; Fluorescencia; Viscoelasticidad; Propiedades térmicas; Propiedades ópticas; Propiedades eléctricas; Propiedades químicas |
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| Ubicación: | 678.7/C945 |
| Disponibilidad: | INTI-Caucho |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Mineral chemistry of metal sulfides |
| Autor: | Vaughan, David J.; Craig, James |
| Título Ser./Col.: | Cambridge Earth Science Series |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Cambridge, GB. London. Cambridge University Press. 1978. |
| Pág./Vol.: | 493p. |
| Descriptores: | Mineralogía; Metales; Sulfuros; Cristaloquímica; Cristalografía; Geología; Estructura cristalina; Espectroscopía; Espectroscopía de rayos X |
| Ubicación: | 549.3 V4651 |
| Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Teoría y práctica de la espectroscopía de rayos X |
| Autor: | Bermudez Polonio, J. |
| Título Ser./Col.: | Exedra Ciencia Técnica Ingeniería, 8 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Madrid. ES. Alhambra. 1967. |
| Pág./Vol.: | 267p. |
| Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Espectros; Rayos X; Longitud de onda; Tubos; Rectificadores; Voltaje; Corriente eléctrica; Radiación; Materia; Absorción; Fluorescencia; Excitación; Dispersión; Emisión; Cristales; Difracción de rayos X; Reflexión; Temperatura; Sistemas ópticos; Espectrómetros; Detección; Intensidad; Ionización; Contadores; Detectores; Análisis cualitativo; Análisis cuantitativo; Límites de detección; Métodos de análisis; Muestreo; Interferometría; Análisis químico; Métodos de determinación; Espesor |
| Ubicación: | CEQUIPE/217/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | CEQUIPE |
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