Término solicitado: MICROSCOPIOS ELECTRONICOS/(65,175,265)
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| Tipo de Docum.: | artículo |
| Título: | Estudio del efecto de los aniones cloruros, sulfatos y sus mezclas en la Electrodeposición de cinc en medio ácido. |
| Autor: | Mahmud, Zulema Ángela; Gordillo, Gabriel; D´Alkaine, Carlos V. |
| Autor Instit.: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI-Procesos Superficiales. Buenos Aires. AR; Universidad de Buenos Aires. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales. FCEN-UBA. Buenos Aires. AR; Universidade Federal de Sao Carlos. UFSCar. São Paulo. BR |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | s.l. AR. 2015. |
| Pág./Vol.: | 19p. |
| Unidad técnica: | INTI-Procesos Superficiales. |
| Descriptores: | Cinc; Metales; Voltametría; Electrodeposición; Procesos superficiales; Recubrimientos metálicos; Acidez; Aniones; Sulfatos; Cloruros; Sales de amonio; Soluciones; Deposición; Eficiencia; Microscopía electrónica de barrido; Microscopios electrónicos |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Characterisation of polymers |
| Autor: | Crompton, T.R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Shawbury. GB. RAPRA smithers. 2008. |
| Pág./Vol.: | 2v. |
| Notas: | Ejemplar en préstamo permanente a INTI-Caucho. |
| Descriptores: | Polímeros; Espectroscopía; Espectroscopía de absorción atómica; Plasma; Espectroscopía de masa; Microprocesadores; Metales; Polarografía; Voltametría; Iones; Cromatografía; Ensayos no destructivos; Espectroscopía de rayos X; Neutrones; Análisis; Catálisis; Espectrofotometría; No metales; Halógenos; Sulfuros; Nitrógeno; Oxígeno; Peróxidos; Fotometría; Copolímeros; Análisis de Fourier; Microscopios; Microscopios electrónicos; Pirólisis; Gases; Acetato de vinilo |
| Ubicación: | CITIC/678.7/C449 |
| Disponibilidad: | INTI-Caucho |
| Tipo de Docum.: | conferencia |
| Título: | Trabajos |
| Reunión: | Universidad de Chile. Facultad de Ciencias Físicas y Matemáticas. Santiago de Chile. CL, Organización de los Estados Americanos, Conferencia interamericana sobre tecnología de materiales, 9, Inter-American conference on materials technology, 9, Conferencia interamericana de tecnologia de materiais, 9, Santiago de Chile. CL, 1987 |
| Idioma: | spa; eng |
| Datos de Edición: | Santiago de Chile. CL. Universidad de Chile. Facultad de Ciencias Físicas y Matemáticas. 1987. |
| Pág./Vol.: | v.1: 392p. |
| Descriptores: | Metalurgía; Metales; Descargas eléctricas; Laminas; Cálculo matemático; Temperatura; Aceros; Motores; Transformadores; Deformación; Tubos; Materiales; Calidad; Chapas; Titanio; Aleaciones; Fragilidad; Fotoluminiscencia; Oxido de cinc; Alambres; Computación; Soldadura; Microestructuras; Tratamientos térmicos; Interfases; Torsión; Elasticidad; Aluminio; Altas temperaturas; Microscopios electrónicos; Fisuras; Fatiga; Corrosión; Diseño; Bronce; Resistencia de materiales |
| Ubicación: | Construcciones/514 |
| Disponibilidad: | INTI-Construcciones |
| Tipo de Docum.: | boletín |
| Título: | Laboratorio de Microscopía Electrónica |
| Autor: | Parodi, María Belén; Vega, Daniel |
| Título Ser./Col.: | Reporte metalmecánico; Año 4, Número 5, marzo de 2004 |
| Autor Inst. Ser./Col.: | INTI-Mecánica. Buenos Aires. AR |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI-Mecánica. 2004. |
| Pág./Vol.: | p.1. |
| Unidad técnica: | INTI-Mecánica. |
| Descriptores: | Industria metalmecánica; Mecánica; Microscopía electrónica; Microscopios electrónicos |
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Trabajo de INTI |
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| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Electron microscopy of polymers |
| Autor: | Michler, Goerg H. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Berlin. DE. Springer-Verlag. 2008. |
| Pág./Vol.: | 473p. |
| Descriptores: | Polímeros; Microscopía electrónica; Transmisión de imágenes; Holografía; Alto voltaje; Microscopios electrónicos; Microscopía electrónica de barrido; Optoelectrónica; Generadores de señales; Microanálisis; Rayos X; Energía atómica; Micromecánica; Ensayos; Procesamiento de imágenes; Preparación de superficies; Deformación; Macromoléculas; Estructura molecular; Estado amorfo; Estructura cristalina; Mezclas; Caucho; Impactos; Copolímeros; Elastómeros; Materiales compuestos; Nanocompuestos; Biomateriales; Biopolímeros |
| Ubicación: | 678.7/M624; CITIP/422 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Quantitative microscopy |
| Autor: | Dehoff, Robert T. ed.; Rhines, Frederick N. ed. |
| Título Ser./Col.: | McGraw-Hill series in materials science and engineering |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Mac Graw-Hill. 195-? |
| Pág./Vol.: | 403p. |
| Notas: | Donación Familia Ing. Abril. |
| Descriptores: | Microscopía electrónica; Microscopios electrónicos; Metalografía; Partículas; Mediciones |
| Ubicación: | 620.187/Q258 |
| Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Introduction to electron microscopy |
| Autor: | Hall, Cecil E. |
| Título Ser./Col.: | Internatinal series in pure and applied physics |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Mac Graw-Hill. 1953. |
| Pág./Vol.: | 451p. |
| Descriptores: | Microscopía electrónica; Microscopios electrónicos; Lentes; Difracción; Imágenes; Estereocopía |
| Ubicación: | 620.187/H1401 |
| Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Principles and techniques of scanning electron microscopy |
| Autor: | Hayat, M. Arif. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Van Nostrand Reinhold. 1974. |
| Pág./Vol.: | v. |
| Notas: | Biblioteca posee: Vol. 1, 1974 : Biological Applications . |
| Descriptores: | Microscopía; Microscopía electrónica; Microscopios electrónicos; Punto crítico; Muestras |
| Ubicación: | 620.187/P9358 |
| Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Nano-plating; microestructure control theory of plated film and data base of plated film microstructure |
| Autor: | Watanabe, Tohru |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Amsterdam, NL; Boston, US; London. GB. Elsevier. 2004. |
| Pág./Vol.: | 697p. |
| Descriptores: | Microestructuras; Películas; Estructuras metálicas; Estructuras cristalinas; Superficies; Temperatura; Textura; Cristalografía; Electrodeposición; Recubrimientos electroliticos; Deposición; Cobalto; Descomposición; Formas tridimensionales; Mediciones; Microscopios electrónicos |
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| Ubicación: | 669.05/W314 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Characterisation of polymers |
| Autor: | Crompton, T.R. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Shawbury. GB. RAPRA smithers. 2008. |
| Pág./Vol.: | 2v. |
| Notas: | Ejemplar en préstamo permanente a INTI-Caucho. |
| Descriptores: | Polímeros; Espectroscopía; Espectroscopía de absorción atómica; Plasma; Espectroscopía de masa; Microprocesadores; Metales; Polarografía; Voltametría; Iones; Cromatografía; Ensayos no destructivos; Espectroscopía de rayos X; Neutrones; Análisis; Catálisis; Espectrofotometría; No metales; Halógenos; Sulfuros; Nitrógeno; Oxígeno; Peróxidos; Fotometría; Copolímeros; Análisis de Fourier; Microscopios; Microscopios electrónicos; Pirólisis; Gases; Acetato de vinilo |
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| Ubicación: | 678.7/C945 |
| Disponibilidad: | INTI-Caucho |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Thermal methods of analysis; principles, applications and problems |
| Autor: | Haines, P. J. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | London, GB; New York. US. Blackie Academic and Profesional, Chapman & Hall. 1995. |
| Pág./Vol.: | 286p. |
| Descriptores: | Análisis térmico; Análisis cuantitativo; Equipos de laboratorio; Computadoras; Análisis gravimétrico; Cinética; Aplicaciones; Polímeros; Polimerización; Calorimetría; Sensores; Calibración; Reacciones químicas; Productos; Espectroscopia; Detección; Métodos de determinación; Métodos de identificación; Gases; Cromatografía de gases; Pirólisis; Polimorfismo; Microscopía; Rayos X; Microscopios electrónicos; Materiales; Farmacología |
| Ubicación: | CITIP/129 |
| Disponibilidad: | INTI-Plásticos/UTM |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Particle size analysis |
| Autor: | Jelinek, Zdenék |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Halsted Press, Wiley. 1970. |
| Pág./Vol.: | 178p. |
| Descriptores: | Partículas; Métodos de análisis; Métodos ópticos; Microscopios; Microscopía; Mediciones; Muestreo; Microfotografía; Osciloscopio; Microscopía electrónica; Microscopios electrónicos; Difusión; Luz; Rayos X; Granulometría; Ultrafiltración; Cromatografía; Análisis gravimétrico; Sedimentación; Centrifugación |
| Ubicación: | CITIP/103 |
| Disponibilidad: | INTI-Plásticos |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Scanning probe microscopy ; analytical methods |
| Autor: | Wiesendanger, R.. ed. |
| Título Ser./Col.: | Nanoscience and technology |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Berlin, DE; New York. US. Springer Verlag. 1998. |
| Pág./Vol.: | 216p. |
| Descriptores: | Microscopios electrónicos; Microscopía electrónica de barrido; Electrones; Instrumentos ópticos; Métodos ópticos; Semiconductores; Superficies; Moléculas; Atomos; Propiedades; Elasticidad; Métodos ópticos; Termoelectricidad; Voltaje; Electrodos; Fotoelectricidad; Fotones; Lasers; Procesamiento óptico |
| Ubicación: | CIEPS/103 |
| Disponibilidad: | CIEPS |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Scanning tunneling microscopy III; theory of STM and related scanning probe methods |
| Autor: | Wiesendanger, R.. ed.; Güntherodt, H.J.. ed. |
| Título Ser./Col.: | Surface sciences, 29 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 2.ed.. Berlin, DE; New York. US. Springer Verlag. 1996. |
| Pág./Vol.: | 402p. |
| Descriptores: | Microscopios electrónicos; Microscopía electrónica de barrido; Electrones; Instrumentos ópticos; Métodos ópticos; Microscopía electrónica; Análisis microscópico; Procesamiento óptico; Espectroscopía; Superficies; Simulación; Imágenes; Luz; Emisión; Teoría cuántica |
| Ubicación: | CIEPS/102 |
| Disponibilidad: | CIEPS |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Scanning probe microscopy and spectroscopy; methods and applications |
| Autor: | Wiesendanger, Roland |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Cambridge. GB. Cambridge University Press. 1994. |
| Pág./Vol.: | 637p. |
| Descriptores: | Microscopía electrónica de barrido; Espectroscopía; Microscopios electrónicos; Métodos ópticos; Optoelectrónica; Electrones; Semiconductores; Aplicaciones; Superficies; Superconductividad; Densidad; Ondas; Electroquímica; Metrología; Nanotecnología |
| Ubicación: | CIEPS/101 |
| Disponibilidad: | CIEPS |
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