Término solicitado: DIFRACTOMETRIA/(65,175,265)
18 Registro/s encontrado/s en CAT+NORMA
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | X-ray diffraction by polycrystalline materials |
| Autor: | Peiser, H. S. ed.; Rooksby, H. P. ed.; Wilson, A. J. C. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | London. GB. The Institute of Physics. 1960. |
| Pág./Vol.: | 725p. |
| Notas: | Préstamo permanente a Materiales . |
| Descriptores: | Difracción de rayos X; Cristalografía; Cristales; Rayos X; Refracción; Difractometría |
| Ubicación: | 548.73/X79 |
| Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | A practical guide for the preparation of specimens for X-ray fluorescence and X-ray diffraction analysis |
| Autor: | Buhrke, Victor E.. ed.; Jenkins, Ron. ed.; Smith, Deane K.. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Wiley-VCH. 1998. |
| Pág./Vol.: | 333p. |
| Descriptores: | Rayos X; Fluorescencia; Difracción de rayos X; Análisis; Estadística; Dispersión; Errores; Polvo; Aplicaciones; Trituración; Absorción; Cristales; Espectrómetros; Fusión; Líquidos; Soluciones; Manipuleo; Materiales radioactivos; Dolomita; Dióxido de carbono; Calibración; Yeso; Vidrios; Cementos; Materias primas; Metales; Aluminio; Aleaciones; Titanio; Hierro; Aceros; Materiales; Oxido de aluminio; Agua superficial; Aceites; Carbón; Vegetales; Equipamiento; Propiedades; Patrones; Difractometría; Aerosoles; Cerámica; Minerales; Minas; Películas delgadas; Papel; Plásticos; Mediciones; Cámaras; Pulverización; Normalización |
| Ubicación: | CEQUIPE/171/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | CEQUIPE |
| Tipo de Docum.: | congreso |
| Título: | Proceedings |
| Reunión: | American Chemical Society. ACS. Washington. US, Fall Meeting, Orlando. US, 1996 |
| Título Ser./Col.: | Polymeric Materials; Science and Engineering, 75 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Washington. US. ACS. 1996. |
| Pág./Vol.: | 490p. |
| Descriptores: | Polímeros; Materiales; Espectroscopía; Mezclas; Difractometría; Propiedades eléctricas; Propiedades ópticas; Mediciones; Reacciones químicas; Resinas vinílicas; Superficies; Revestimientos; Aplicaciones |
| Ubicación: | CITIP/189 |
| Disponibilidad: | INTI-Plásticos |
| Tipo de Docum.: | conferencia |
| Título: | Clays and clays minerals |
| Autor: | Swineford, Ada. ed.; Bates, Thomas F. ed.; Carrol, Dorothy. ed.; Frederickson, A.F.. ed.; Waxman, Monroe H.. ed.; Bradley, William F.. ed.; Franks, Paul C.. ed.; Lewis, Donald R.. ed.; Weaver, Charles E.. ed. |
| Reunión: | National Academy of Sciences. NAS. Committee on Clay Minerals. National Research Council. NRC. Washington. US, National conference an clays and clay minerals; proceedings, 7, Washington. US, 1958 |
| Título Ser./Col.: | International series of monographs on earth sciences, 5 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Oxford, GB; New York. US. Pergamon press. 1960. |
| Pág./Vol.: | 369p. |
| Descriptores: | Arcillas; Minerales arcillosos; Aguas salobres; Disolución; Mineralogía; Geología; Depósitos; Yeso; Suelos; Análisis cuantitativo; Rayos X; Rocas; Difractometría; Oxido de hierro; Cationes; Viscosidad; Suspensiones; Presión; Coloides |
| Ubicación: | 663.3/C748/7 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Worked examples in X-ray analysis |
| Autor: | Jenkins, R.; De Vries, J.L. |
| Título Ser./Col.: | Philips technical library |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Springer-Verlag. 1970. |
| Pág./Vol.: | 129p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Análisis; Espectros; Radiación; Instrumentos; Detectores; Dispersión; Cristales; Fluorescencia; Contadores; Difractometría; Estadística; Errores; Análisis cuantitativo; Métodos de determinación; Plomo; Aceites; Oxido de calcio; Cementos; Níquel; Aceros; Matrices; Absorción; Excitación; Intensidad; Difracción de rayos X; Oro; Electrodeposición; Recubrimientos superficiales; Filtros |
| Ubicación: | 543.42/J52w; CEQUIPE/157/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Interpretation of X-ray powder diffraction patterns |
| Autor: | Lipson, H.; Steeple, H. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | London, GB; New York. US. Macmillan, St. Martin's Press. 1970. |
| Pág./Vol.: | 335p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Polvo; Difracción de rayos X; Cristales; Simetría; Estructura cristalina; Geometría; Radiación; Longitud de onda; Absorción; Medidas de seguridad; Reflexión; Mediciones; Difractometría; Temperatura; Presión; Neutrones; Fotografía; Gráficos; Métodos de análisis; Células; Errores; Estadística; Contadores; Aplicaciones; Intensidad; Métodos de identificación |
| Ubicación: | 548.73/L767; CEQUIPE/158/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | X-ray diffraction |
| Autor: | Warren, B.E. |
| Título Ser./Col.: | Addison-Wesley series in metallurgy and materials |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Reading, US; London, GB; Don Mills. CA. Addison-Wesley. 1969. |
| Pág./Vol.: | 381p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Atomos; Electrones; Polarización; Cristales; Cristalografía; Reflexión; Temperatura; Intensidad; Polvo; Películas; Difractometría; Análisis; Mediciones; Rotación; Estructuras; Uranio; Densidad; Sólidos no cristalinos; Materia; Gases; Líquidos; Sólidos; Estado amorfo; Vibraciones; Longitud de onda; Deformación; Metales; Absorción; Simetría; Emisión; Dispersión |
| Ubicación: | 543.422/W286; CEQUIPE/161/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | X-ray analysis papers: a volume of twenty-four selected reprints from Philips Laboratories |
| Autor: | Parrish, William. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Eindhoven. NL. Centrex Publishing Company. 1965. |
| Pág./Vol.: | 310p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Análisis; Polvo; Difracción de rayos X; Filtros; Cristales; Longitud de onda; Difractometría; Espectros; Tubos; Geometría; Calibración; Minerales; Estructura cristalina; Estadística; Intensidad; Detección; Precisión; Mediciones; Espectroscopía de rayos X; Análisis espectroquímico; Fluorescencia; Filtración; Excitación; Cristalografía; Espectrómetros; Contadores; Absorción; Radioactividad; Silicio |
| Ubicación: | 543.422/P261x/2.ed.; CEQUIPE/163/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | The X-ray identification and crystal structures of clay minerals |
| Autor: | Brown, G.. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | London. GB. Mineralogical Society. 1961. |
| Pág./Vol.: | 544p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Métodos de identificación; Estructura cristalina; Minerales arcillosos; Método experimental; Fotografía; Difractometría; Polvo; Radiación; Filtros; Caolines; Minerales; Caolinita; Estructuras; Transformaciones de fase; Calor; Tratamientos térmicos; Diagramas; Difracción; Mica; Composición química; Análisis térmico; Análisis químico; Vermiculita; Propiedades fisicoquímicas; Oxidos; Hidróxidos; Aluminio; Hierro; Oxido de aluminio; Difracción de rayos X; Cristales; Dióxido de silicio; Titanio; Carbonatos; Sulfatos; Fosfatos; Análisis cuantitativo |
| Ubicación: | 537.531/B877; CEQUIPE/187/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Proceedings |
| Autor: | McCarthy, Gregory J.. ed.; Barrett, Charles S.. ed.; Leyden, Donald E.. ed.; Newkirk, John B.. ed.; Ruud, Clayton O.. ed. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, JCPDS-International Centre for Diffraction Data, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 27, Denver. US, 1978 |
| Título Ser./Col.: | Advances in X-ray analysis, vol.22 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1979. |
| Pág./Vol.: | 492p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Materiales radioactivos; Procesamiento de datos; Difractometría; Análisis cuantitativo; Industria minera; Papel; Pigmentos; Aceros; Radiación; Aceros inoxidables; Carbono |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/22/A; CEQUIPE/164/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | International tables for X-ray crystallography |
| Autor Instit.: | International Union of Crystallography. IUC |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 3.ed.. Birmingham. GB. Kinoch Press. 1969. |
| Pág./Vol.: | 4v. |
| Notas: | Contenido:v.1: Symmetry groups, v.2: Mathematical tables, v.3: Physical and chemical tables, v.4: Revised and supplementary tables. |
| Descriptores: | Cristalografía; Rayos X; Tablas numéricas; Cristales; Estructura cristalina; Algebra; Trigonometría; Geometría; Cálculo diferencial; Cálculo integral; Vectores; Análisis de Fourier; Estadística; Sistemas cristalinos; Difracción; Mediciones; Protección radiológica; Longitud de onda; Absorción; Dispersión; Difractometría; Difracción de rayos X |
| Ubicación: | 548.73/I61 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | The optical transfer function |
| Autor: | Barnes, K.R. |
| Título Ser./Col.: | Monographs on applied optics, 3 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | London. GB. Hilger. 1971. |
| Pág./Vol.: | 78p. |
| Descriptores: | Transferencia óptica; Optica; Funciones; Mediciones ópticas; Difractometría |
| Ubicación: | 535.3/B261 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Introduction to X-ray powder diffractometry |
| Autor: | Jenkins, R.; Snyder, Robert L. |
| Título Ser./Col.: | Chemical analysis; a series of monographs on analytical chemistry and its applications, 138 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Wiley-Interscience. 1996. |
| Pág./Vol.: | 403p. |
| Descriptores: | Difractometría; Rayos X; Difracción de rayos X; Estructura cristalina; Difracción; Radiación; Detectores; Equipos electrónicos; Instrumentos de medición; Mediciones ópticas; Análisis cualitativo; Análisis cuantitativo |
| Ubicación: | 543.4/J52 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
Fin
[Página de Inicio] [Nueva Búsqueda][Página Anterior]