• Inicio
• Nueva Búsqueda
• Página Anterior

Término solicitado: SNYDER, ROBERT L./(22)

2 Registro/s encontrado/s en CAT+NORMA

Tipo de Docum.:	libro
Título:	Introduction to X-ray powder diffractometry
Autor:	Jenkins, Ron; Snyder, Robert L.
Título Ser./Col.:	Chemical analysis; a series of monographs on analytical chemistry and its applications, 138
Idioma:	eng
Datos de Edición:	New York, US; Toronto. CA. Wiley-Interscience. 1996.
Pág./Vol.:	403p.
Descriptores:	Rayos X; Polvo; Difractometría; Radiación; Difracción de rayos X; Dispersión; Absorción; Medidas de seguridad; Estructura cristalina; Cristalografía; Simetría; Patrones; Reflexión; Intensidad; Voltaje; Alto voltaje; Tubos; Espectros; Detectores; Detección; Equipos electrónicos; Propiedades; Circuitos; Cromatografía; Filtros; Sólidos; Instrumentos de medición; Mediciones; Mantenimiento; Separación; Métodos de reducción; Calibración; Normalización; Procesamiento de datos; Errores; Calidad; Análisis cualitativo; Bases de datos; Estrategias de búsqueda; Análisis cuantitativo; Longitud de onda; Peso atómico; Densidad
Ubicación:	CEQUIPE/169/Metales y A.Inorgánico
Disponibilidad:	Préstamo

---

Tipo de Docum.:	libro
Título:	Introduction to X-ray powder diffractometry
Autor:	Jenkins, R.; Snyder, Robert L.
Título Ser./Col.:	Chemical analysis; a series of monographs on analytical chemistry and its applications, 138
Idioma:	eng
Datos de Edición:	New York. US. Wiley-Interscience. 1996.
Pág./Vol.:	403p.
Descriptores:	Difractometría; Rayos X; Difracción de rayos X; Estructura cristalina; Difracción; Radiación; Detectores; Equipos electrónicos; Instrumentos de medición; Mediciones ópticas; Análisis cualitativo; Análisis cuantitativo
Ubicación:	543.4/J52
Disponibilidad:	Préstamo

---

Fin

[Página de Inicio] [Nueva Búsqueda][Página Anterior]