Término solicitado: JENKINS, R./(22)
4 Registro/s encontrado/s en CAT+NORMA
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Worked examples in X-ray analysis |
| Autor: | Jenkins, R.; De Vries, J.L. |
| Título Ser./Col.: | Philips technical library |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Springer-Verlag. 1970. |
| Pág./Vol.: | 129p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Análisis; Espectros; Radiación; Instrumentos; Detectores; Dispersión; Cristales; Fluorescencia; Contadores; Difractometría; Estadística; Errores; Análisis cuantitativo; Métodos de determinación; Plomo; Aceites; Oxido de calcio; Cementos; Níquel; Aceros; Matrices; Absorción; Excitación; Intensidad; Difracción de rayos X; Oro; Electrodeposición; Recubrimientos superficiales; Filtros |
| Ubicación: | 543.42/J52w; CEQUIPE/157/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Practical X-ray spectrometry |
| Autor: | Jenkins, R.; De Vries, J.L. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 2.ed.. Eindhoven. NL. Philips. 1972. |
| Pág./Vol.: | 190p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Propiedades físicas; Radiación; Difracción de rayos X; Dispersión; Espectrómetros; Cristales; Detección; Detectores; Contadores; Instrumentos de medición; Datos estadísticos; Matrices; Absorción; Análisis cuantitativo; Normalización; Muestreo; Metales; Sólidos; Polvo; Líquidos; Manipuleo; Concentración; Tubos; Polarización; Filtros |
| Ubicación: | 543.42/J52/2.ed.; CEQUIPE/146/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Barrett, C.S.; Cohen, J.B.; Faber, J.; Jenkins, R.; Leyden, D.E.; Russ, J.C.; Predecki, P.K.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 34, Snowmass. US, 1985 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1986. |
| Pág./Vol.: | 600p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Aplicaciones; Resistencia de materiales; Minerales; Películas delgadas |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/29/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Introduction to X-ray powder diffractometry |
| Autor: | Jenkins, R.; Snyder, Robert L. |
| Título Ser./Col.: | Chemical analysis; a series of monographs on analytical chemistry and its applications, 138 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Wiley-Interscience. 1996. |
| Pág./Vol.: | 403p. |
| Descriptores: | Difractometría; Rayos X; Difracción de rayos X; Estructura cristalina; Difracción; Radiación; Detectores; Equipos electrónicos; Instrumentos de medición; Mediciones ópticas; Análisis cualitativo; Análisis cuantitativo |
| Ubicación: | 543.4/J52 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
Fin
[Página de Inicio] [Nueva Búsqueda][Página Anterior]