Término solicitado: BARRETT, C.S./(22)
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| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Rhodes, J.R.; Barrett, C.S.; Leyden, D.E.; Newkirk, J.B.; Predecki, P.K.; Ruud, C.O. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 28, Denver. US, 1979 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1980. |
| Pág./Vol.: | 390p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Aplicaciones; Industria minera; Carbón; Modelos matemáticos; Medio ambiente; Aleaciones; Resistencia de materiales |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/23/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Barrett, C.S.; Leyden, D.E.; Newkirk, J.B.; Ruud, C.O.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 26, Denver. US, 1977 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1978. |
| Pág./Vol.: | 325p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Metales; Minerales; Aplicaciones |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/21/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Russ, J.C.; Barrett, C.S.; Predecki, P.K.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Industrial Applications of X-Ray Analysis, 13, Denver. US, 1981 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1982. |
| Pág./Vol.: | 398p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Metales; Minerales; Lubricantes; Medio ambiente; Aplicaciones |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/25/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Barrett, C.S.; Cohen, J.B.; Faber, J.; Jenkins, R.; Leyden, D.E.; Russ, J.C.; Predecki, P.K.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 34, Snowmass. US, 1985 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1986. |
| Pág./Vol.: | 600p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Aplicaciones; Resistencia de materiales; Minerales; Películas delgadas |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/29/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Barrett, C.S.; Predecki, P.K.; Leyden, D.E.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, JCPDS-International Centre for Diffraction Data, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 33, Denver. US, 1984 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1985. |
| Pág./Vol.: | 393p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Aplicaciones; Medio ambiente; Mineralogía; Resistencia de materiales |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/28/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Pickles, W.L.; Barrett, C.S.; Newkirk, J.B.; Ruud, C.O.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 23, Denver. US, 1974 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1975. |
| Pág./Vol.: | 642p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Plasma; Aire; Aerosoles |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/18/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Grant, C.L.; Barrett, C.S.; Newkirk, J.B.; Ruud, C.O.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 22, Denver. US, 1973 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1974. |
| Pág./Vol.: | 596p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Arcillas; Aceros; Aerosoles |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/17/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Birks, L.S.; Barrett, C.S.; Newkirk, J.B.; Ruud, C.O.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 21, Denver. US, 1972 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 191973. |
| Pág./Vol.: | 410p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Medio ambiente; Materiales biomédicos |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/16/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Heinrich, K.F.J.; Barrett, C.S.; Newkirk, J.B.; Ruud, C.O.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 20, Denver. US, 1971 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1972. |
| Pág./Vol.: | 573p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis; Aceros |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/15/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Barrett, C.S.; Newkirk, J.B.; Ruud, C.O.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 19, Denver. US, 1970 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1971. |
| Pág./Vol.: | 500p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/14/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Newkirk, J.B.; Mallett, G.R.; Barrett, C.S.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 17, Denver. US, 1968 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1969. |
| Pág./Vol.: | 648p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Aluminio; Aleaciones; Metales; Minerales; Cristales; Fluorescencia; Espectroscopía de rayos X; Microscopía; Microanálisis |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/12/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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