Término solicitado: FABER, J./(22)
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| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: | Barrett, C.S.; Cohen, J.B.; Faber, J.; Jenkins, R.; Leyden, D.E.; Russ, J.C.; Predecki, P.K.. eds. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 34, Snowmass. US, 1985 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1986. |
| Pág./Vol.: | 600p. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Aplicaciones; Resistencia de materiales; Minerales; Películas delgadas |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/29/A |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
Fin
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