Término solicitado: LEYDEN, D.E./(22)
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| Tipo de Docum.: |
advance |
| Título: |
Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: |
Rhodes, J.R.;
Barrett, C.S.;
Leyden, D.E.;
Newkirk, J.B.;
Predecki, P.K.;
Ruud, C.O.
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| Reunión: |
University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 28, Denver. US, 1979 |
| Idioma: |
eng |
| Datos de Edición: |
New York. US. Plenum Press. 1980. |
| Pág./Vol.: |
390p. |
| Descriptores: |
Rayos X;
Difracción de rayos X;
Espectroscopía de rayos X;
Aplicaciones;
Industria minera;
Carbón;
Modelos matemáticos;
Medio ambiente;
Aleaciones;
Resistencia de materiales
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| Ubicación: |
543.4/.47/A244/23/A |
| Disponibilidad: |
Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: |
advance |
| Título: |
Advances in X-ray analysis: proceedings |
| Autor: |
Barrett, C.S.;
Cohen, J.B.;
Faber, J.;
Jenkins, R.;
Leyden, D.E.;
Russ, J.C.;
Predecki, P.K.. eds.
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| Reunión: |
University of Denver. Denver. US, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 34, Snowmass. US, 1985 |
| Idioma: |
eng |
| Datos de Edición: |
New York. US. Plenum Press. 1986. |
| Pág./Vol.: |
600p. |
| Descriptores: |
Rayos X;
Difracción de rayos X;
Espectroscopía de rayos X;
Aplicaciones;
Resistencia de materiales;
Minerales;
Películas delgadas
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| Ubicación: |
543.4/.47/A244/29/A |
| Disponibilidad: |
Consulta in situ |
Fin
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