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Término solicitado: LAIZ, H./(22)

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Diseño de termoconversor de película delgada con sensor resistivo de VO2
Autor: Campo, M.; Laiz, H.; Huck, C.
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14, Buenos Aires. AR, 2022
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2022.
Pág./Vol.: Pag. varias: grafs.; il.
Unidad técnica: INTI-Departamento de Micro y Nano Fabricación; INTI-Gerencia Operativa de Metrología y Calidad.
Descriptores: Conversión térmica; Películas delgadas; Simulación; Corriente alterna; Sensores; Diseño

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Formación a terceros en Industria 4.0 y sus tecnologías habilitadoras
Autor: Vigna, A.; Mollo, J. C.; Kornblit, F.; Laiz, H.; Marzocchini, M.; Valdés, J.; Rothberg, P.
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Argentina, TecnoINTI edición 2022. Jornadas de Desarrollo Tecnológico e Innovación, 14, Buenos Aires. AR, 2022
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2022.
Pág./Vol.: Pag. varias.
Unidad técnica: INTI-Departamento de Gestión de Proyectos Industria 4.0; INTI-Departamento de Administración de Metrología Legal y Calidad; INTI-Dirección Operativa.
Descriptores: Industria; Cursos; Capacitación; Digitalización; Asistencia técnica; Internet; Robótica; Inteligencia artificial; Simulación; PyME

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Trilateral South-American project: a reference system for measuring electric power up to 100 kHz – progress report II
Autor: Kyriazis, G. A.; Di Lillo, L.; Slomovitz, D.; Iuzzolino, R.; Yasuda, E.; Trigo, L.; de Souza, R. M.; Laiz, H.; Debatin, R. M.; Afonso, E.
Reunión: Brazilian Congress on Metrology, 9, Fortaleza-BR, 2017
Título Ser./Col.: Journal of Physics: Conference Series, 975
Autor Inst. Ser./Col.: Institute of Physics. IOP. Londres. AR
Idioma: eng
Datos de Edición: s.l. IOP. 2018.
Pág./Vol.: 5p.
Descriptores: Sistema interamericano de mediciones; Mediciones electricas; Argentina; Brasil; Uruguay; Latinoamérica

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URL:

https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/975/1/012072



Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Fabrication of a thin-film thermal converter with resistive sensing
Autor: Di Lillo, L.; Malatto, L.; Giménez, G.; Mangano, E.; Fraigi, L.; Laiz, H.
Autor Instit.: INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR; INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR
Reunión: Conference on Precision Electromagnetic Measurements, CPEM 2010, Daejeon. KR, 2010
Idioma: eng
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI-Física y Metrología, INTI-Electrónica e Informática. 2010.
Pág./Vol.: p.163-164.
Unidad técnica: INTI-Física y Metrología; INTI-Electrónica e Informática.
Descriptores: Convertidores; Películas delgadas; Temperatura; Resistores; Conversión térmica; Resistencia térmica

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Nuevo sistema de alta exactitud para la medición de muy bajas tensiones alternas
Autor: Di Lillo, L.; Laiz, H.
Autor Instit.: INTI-Física. Buenos Aires. AR
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo de infraestructura tecnológica, precompetitivo, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2002
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2002.
Pág./Vol.: 2p.
Unidad técnica: INTI-Física.
Descriptores: Mediciones eléctricas; Patrones; Instrumentos de medición; Voltaje; Transferencia de energía; Corriente eléctrica; Corriente alterna; Potenciómetros; Calibración; Incertidumbre

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Evaluación de las incertidumbres de medición del sistema Josephson del INTI
Autor: Iuzzolino, R.; Melo, J.; Laiz, H.; Tischler, M.
Autor Instit.: Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires. AR
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, investigación aplicada, precompetitivo, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2002
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2002.
Pág./Vol.: 2p.
Unidad técnica: DPMN.
Descriptores: Mediciones eléctricas; Incertidumbre; Amperio; Voltaje; Metrología; Errores; Calibración

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Divisor inductivo binario controlado por computadora
Autor: Iuzzolino, R.; García, R.; Laiz, H.
Autor Instit.: Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires. AR; INTI-Física. Buenos Aires. AR
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2002
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2002.
Pág./Vol.: 2p.
Unidad técnica: DPMN; INTI-Física.
Descriptores: Mediciones eléctricas; Dispositivos eléctricos; Sistemas computarizados; Convertidores digital-analógico; Impedancia

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Desarrollo de una llave de conmutación automática para la comparación de resistores patrones
Autor: Boaglio, C.; Laiz, H.; Iuzzolino, R.; Melo, J.
Autor Instit.: Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires. AR
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2002
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2002.
Pág./Vol.: 2p.
Unidad técnica: DPMN.
Descriptores: Resistores; Patrones; Conmutación; Llaves; Resistencia eléctrica; Sistemas computarizados; Mediciones eléctricas; Incertidumbre

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Desarrollo de un microvoltímetro vectorial
Autor: Iuzzolino, R.; Laiz, H.; García, R.
Autor Instit.: Departamento de Patrones Nacionales de Medida. DPNM. Buenos Aires. AR; INTI-Física. Buenos Aires. AR
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 4, Instrumentación, control y metrología, desarrollo tecnológico, precompetitivo, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2002
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2002.
Pág./Vol.: 2p.
Unidad técnica: DPMN; INTI-Física.
Descriptores: Voltímetros; Instrumentos de medición; Mediciones; Impedancia; Señales; Procesamiento de señales; Amplificadores; Calibración

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Watímetro de muestreo con shunt capacitivo para la medición de potencia cuando las ondas están distorsionadas
Autor: García, R.; Regueiro, J. A.; Laiz, H.
Autor Instit.: INTI-CEFIS. Buenos Aires. AR
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 3, Instrumentación, control y metrología, precompetitivo, desarrollo tecnológico, Parque Tecnológico Miguelete, 2000
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2000.
Pág./Vol.: 1p.
Unidad técnica: INTI-CEFIS.
Descriptores: Instrumentos de medición; Mediciones; Potencia; Ondas; Distorción; Conversidores digital-analógico

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Análisis de un método de calibración para analizadores de armónicas de frecuencia de red
Autor: Prego, J. L.; García, R.; Laiz, H.
Autor Instit.: INTI-Física. Buenos Aires. AR
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 3, Instrumentación, control y metrología, precompetitivo, desarrollo tecnológico, Parque Tecnológico Miguelete, 2000
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2000.
Pág./Vol.: 1p.
Unidad técnica: INTI-Física.
Descriptores: Calibración; Método de análisis; Analizadores; Tensión; Corriente eléctrica; Incertidumbre; Amplificadores; Circuitos

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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Puente para la medición de resistores patrones en corriente alterna
Autor: Iuzzolino, R.; Laíz, H.; García, R.
Autor Instit.: INTI-Física y Metrología. Buenos Aires. AR
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 5, Desarrollo e innovación tecnológica, metrología, autogenerado, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2004
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2004.
Pág./Vol.: 3p.
Unidad técnica: INTI-Física y Metrología.
Descriptores: Resistores; Puentes; Mediciones; Corriente alterna; Detección; Señales

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Disponibilidad: Consulta in situ



Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: Calibración de alcoholímetros
Autor: Giménez, G.; Mel, A.; Mangano, E.; Barrera, F.; Fraigi, L.; Laiz, H.
Autor Instit.: INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires. AR; Programa de Metrología Legal. Buenos Aires. AR
Reunión: Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación tecnológica, 6, Metrología, nuevos servicios, Parque Tecnológico Miguelete. AR, 2007
Idioma: spa
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI. 2007.
Pág./Vol.: 2p.
Unidad técnica: INTI-Electrónica e Informática.
Descriptores: Alcoholímetros; Calibración; Instrumentos de medición; Alcohol etílico; Alcoholismo; Mediciones; Incertidumbre

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Ubicación: PEI/2
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Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: A sampling wattmeter with a capacitive shunt for the measurement of power under highly distorted waveforms
Autor: García, Ricardo; Regueiro, A.; Laiz, H.
Autor Instit.: Centro de Investigación y Desarrollo en Física. CEFIS. Buenos Aires. AR
Reunión: Conference on precision electromagnetic measurement, CPEM-2000, Sydney. AU, 2000
Idioma: eng
Datos de Edición: Buenos Aires. AR. INTI-CEFIS. 2001.
Pág./Vol.: p.64-65.
Notas: En: Publicaciones 1991-2000: electricidad; Para préstamo véase el ejemplar de la estantería general.
Unidad técnica: CEFIS.
Descriptores: Mediciones eléctricas; Voltaje; Instrumentos de medición; Corriente eléctrica; Distorsión; Electrometría

Trabajo de INTI
  
Ubicación: 4278; 537/I59
Disponibilidad: Consulta in situ



Tipo de Docum.: documento de conferencia
Título: A sampling wattmeter with a capacitive shunt for the measurement of power under highly distorted waveforms
Autor: García, Ricardo; Regueiro, A.; Laiz, H.
Autor Instit.: Centro de Investigación y Desarrollo en Física. CEFIS. Buenos Aires. AR
Reunión: Conference on precision electromagnetic measurement, CPEM-2000, Sydney. AU, 2000
Idioma: eng
Datos de Edición: s.l. IEEE. 2000.
Pág./Vol.: p.36-37.
Unidad técnica: CEFIS.
Descriptores: Mediciones eléctricas; Voltaje; Instrumentos de medición; Corriente eléctrica; Distorsión; Electrometría

Trabajo de INTI
  
Ubicación: 4199
Disponibilidad: Consulta in situ



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