Término solicitado: LONGITUD DE ONDAS/(65)
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| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | LED packaging for lighting applications: design, manufacturing and testing |
| Autor: | Liu, Sheng; Luo, Xiaobing |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Singapore. SG. Wiley, Chemical Industry Press. 2011. |
| Pág./Vol.: | 352p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Electrónica e Informática. |
| Descriptores: | Optoelectrónica; Iluminación; Diodos; Emisión; Luz; Simulación; Dispositivos electrónicos; Envasamiento; Diseño; Fabricación; Ensayos; Transferencia de calor; Resistencia térmica; Confiabilidad; Aplicaciones; Circuitos; Mediciones ópticas; Normas; Longitud de ondas; Color; Temperatura; Luminotecnica; Equipos eléctricos |
| Ubicación: | 628.9/L783; Electrónica/15 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | congreso |
| Título: | Estudio y puesta a punto de la técnica de medición de espesores de capas epitaxiales por el método de interferometría infrarroja |
| Autor: | Berset, Alberto; Grünhut, Enrique |
| Autor Instit.: | INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos. Buenos Aires. AR |
| Reunión: | Secretaría de Estado de Ciencia y Tecnología. SECyT. Buenos Aires. AR, Congreso científico del programa nacional de electrónica, La Falda. AR, 1979 |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos. 1979. |
| Pág./Vol.: | 59p. |
| Unidad técnica: | INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos. |
| Descriptores: | Mediciones; Interferometría; Espectros infrarrojos; Películas; Semiconductores; Espectrómetros; Longitud de ondas; Intrumentos de medición; Métodos de cálculo; Errores; Ruido; Factor de reflexión; Nitrógeno; Silicio; Interferencia; Resistencia eléctrica; Conductividad eléctrica |
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Trabajo de INTI |
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| Ubicación: | 4605 |
| Disponibilidad: | Consulta in situ |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Optical interferometry |
| Autor: | Hariharan, P. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 2.ed.. Amsterdam, NL; Boston. US. Elsevier. 2003. |
| Pág./Vol.: | 351p. |
| Descriptores: | Interferometría; Optica; Mediciones ópticas; Luz; Fuentes de luz; Ensayos ópticos; Coherencia de la luz; Ondas; Interferencia; Espectroscopía; Lasers; Interferómetros; Frecuencia; Flujo luminoso; Espectros; Mediciones electrónicas; Longitud de ondas; Superficies; Microscopía; Microscopios; Análisis de Fourier; Sensores; Errores; Análisis gravimétrico; Tiempo; Espacio; Fotones; Vibraciones; Sistemas lineales; Holografía; Reflexión; Transmisión de la luz |
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| Ubicación: | FISICA/752 |
| Disponibilidad: | INTI-Física |
| Tipo de Docum.: | manual |
| Título: | Manuel pratique de contrôleur par ultrasons |
| Autor: | Pinondel, Marie-José |
| Idioma: | fra |
| Datos de Edición: | Paris. FR. Eyrolles. 1968. |
| Pág./Vol.: | 139p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Mecánica. |
| Descriptores: | Ultrasonido; Ondas ultrasónicas; Propagación de ondas; Piezoelectricidad; Longitud de ondas; Frecuencia; Reflexión; Refracción; Ultrasonido; Ensayos ultrasónicos; Control |
| Ubicación: | 620.179/P657/H; CEMEC/108/Ens.No Destructivos/Edif.9 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | manual |
| Título: | Handbook of microwave measurements |
| Autor: | Sucher, M.; Fox, J.. eds. |
| Autor Instit.: | Polytechnic Institute of Brooklyn. Microwave Research Institute. Brooklyn. US |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 3.ed.. Brooklyn. US. Polytechnic Press. 1963. |
| Pág./Vol.: | 3v. |
| Descriptores: | Ondas; Longitud de ondas; Propagación de ondas; Frecuencia; Mediciones; Ondas acústicas; Microondas; Dieléctricos; Ruido; Señales; Generadores de señales |
| Ubicación: | 621.3/S942 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | Radiación, propagación y antenas; para onda larga, onda corta y microondas |
| Autor: | Salmerón Domínguez, María José |
| Idioma: | spa |
| Datos de Edición: | 2.ed.. México. MX. Trillas. 1990. |
| Pág./Vol.: | 215p. |
| Descriptores: | Antenas; Radio-Comunicaciones; Propagación de ondas; Radiación electromagnética; Ondas; Microondas; Guías de ondas; Ondas electromagnéticas; Longitud de ondas; Campo eléctrico; Campo magnético; Impedancia; Reactancia; Frecuencia; Reflectores |
| Ubicación: | 621.396.67/S171 |
| Disponibilidad: | Préstamo |
Fin
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