Término solicitado: ESPECTROMETROS/(265,65,175)
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Tipo de Docum.: | informe |
Título: | Technical report : effect of instrumental bandpass function and measurement interval on spectral quantities |
Autor: | Gardner, J.; Woolliams, E. |
Autor Instit.: | Commision Internationale de l'Eclairage. CIE. Austria |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Vienna. AT. CIE. 2014. |
Pág./Vol.: | 76p. |
Descriptores: | Fotometría; Espectrofotometría; Espectrómetros |
Ubicación: | 535.243/G226 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Sample preparation for trace element analysis. |
Autor: | Mester, Z.; Sturgeon, R. |
Título Ser./Col.: | Comprehensive analytical chemistry, 41 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Amsterdam. NL. Elsevier. 2003. |
Pág./Vol.: | 1286p. |
Descriptores: | Muestreo; Estrategias; Análisis; Calidad; Transporte; Control de calidad; Control de la contaminación; Mediciones; Calibración; Normalización; Certificación; Incertidumbre; Espectroscopia; Instrumentos de medición; Espectrómetros; Espectros atómicos; Espectroscopía de masa; Fluorescencia; Microondas; Rayos X; Espectrofotometría; Moléculas; Voltametría; Rayos catódicos; Electrodos; Arsenico; Selenio; Equipos de laboratorio; Guias de ondas; Salud; Presión; Temperatura; Compuestos inorgánicos; Sólidos; Metales; Iones; Agua; Criogenia; Membranas; Inyección de moldes; Gases; Oxidación; Rayos ultravioleta; Sólidos; Metales |
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Ubicación: | CEQUIPE/299 |
Disponibilidad: | INTI-Química |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Plastics testing and characterization; industrial applications |
Autor: | Naranjo, Alberto; Noriega, María del Pilar; Osswald, Tim; Roldán-Alzate, Alejandro; Sierra, Juan Diego |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Munich, DE; Cincinnati. US. Hanser Publishers, Hanser Gardner Publications. 2008. |
Pág./Vol.: | 363p. |
Notas: | Ejemplar en préstamo permanente a INTI-Plásticos. |
Descriptores: | Plásticos; Análisis plástico; Aplicaciones; Industria; Evaluación; Características físicas; Espectroscopia; Espectrómetros; Espectros de Raman; Cromatografía de gases; Espectroscopia de masa; Propiedades térmicas; Reología; Propiedades mecánicas; Permeabilidad; Medio ambiente; Propiedades eléctricas; Propiedades ópticas; Acústica; Propiedades dieléctricas; Dieléctricos; Refracción; Absorción |
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Ubicación: | 678.5/N218; CITIP/426 |
Disponibilidad: | Préstamo |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Understanding XRF spectrometry; volumen 2. Quantitative analysis and special sample preparation and presentation methods |
Autor: | Willis, James P.; Duncan, Andrew R. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Almelo. NL. Panalytical. 2008. |
Pág./Vol.: | pag. varía. |
Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Propiedades; Análisis cuantitativo; Espectrómetros; Química; Espectroscopía; Fluorescencia; Espectros; Cristales; Cristalografía; Materiales; Excitación; Absorción; Concentración; Ecuaciones; Técnicas matemáticas; Muestreo; Análisis químico; Instrumentos de medición; Materiales; Geología; Técnicas de evaluación; Inteferencia; Ondas electromagnéticas |
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Ubicación: | CEQUIPE/302/Lab. Metales |
Disponibilidad: | INTI-Química |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Understanding XRF spectrometry; volumen 1. Basic concepts and instrumentation |
Autor: | Willis, James P.; Duncan, Andrew R. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Almelo. NL. Panalytical. 2008. |
Pág./Vol.: | pag. varía. |
Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Propiedades; Espectrómetros; Dispersión; Detección; Distribución; Altura; Pulsos; Energía; Absorción; Partículas; Química; Análisis cuantitativo; Muestreo; Análisis químico; Instrumentos de medición; Instrumentos de pesar; Unidades de medición; Longitud de onda; Fluorescencia; Espectros; Cristales; Cristalografía |
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Ubicación: | CEQUIPE/301/Lab. Metales |
Disponibilidad: | INTI-Química |
Tipo de Docum.: | serie monográfica |
Título: | Thermal radiation property measurement techniques |
Autor: | Dunn, S.T.; Geist, J.C.; Moore, D.G.; Clark, H.E.; Richmond, J.C. |
Autor Instit.: | National Bureau of Standards. NBS. Washington. US |
Título Ser./Col.: | NBS technical note, 415 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Washington. US. NBS. 1967. |
Pág./Vol.: | 77p. |
Descriptores: | Radiación térmica; Mediciones; Espectros; Métodos de análisis; Calibración; Factor de reflexión; Espectrómetros; Interferometría |
Ubicación: | FISICA/563/Div.Luminotecnia |
Disponibilidad: | INTI-Física |
Tipo de Docum.: | serie monográfica |
Título: | Activation foil irradiation by reactor cavity fission sources |
Autor: | Lamaze, George P.; Grundl, James A. |
Autor Instit.: | National Bureau of Standards. NBS. Washington. US |
Título Ser./Col.: | NBS special publication, 250-14 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Washington. US. NBS. 1988. |
Pág./Vol.: | pag.varía. |
Descriptores: | Reactores; Neutrones; Espectros; Métodos de cálculo; Mediciones; Errores; Procedimientos; Sensores; Incertidumbre; Espectrómetros |
Ubicación: | FISICA/550/Div.Luminotecnia |
Disponibilidad: | INTI-Física |
Tipo de Docum.: | documento de conferencia |
Título: | Análisis cuantitativo por fluorescencia de rayos X; Determinación de azufre en gas-oil; de plomo en naftas; de azufre en grasa de porcino para uso industrial; de Mn, P, Si, Cu, Ni, Cr, Mg, Mo en fundiciones gris y blanca |
Autor: | Berreta, C.; Marbec, E. |
Autor Instit.: | Centro de Investigación y Desarrollo en Química y Petroquímica. INTI-CEQUIPE. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Instituto Nacional de Tecnología Industrial. INTI. Buenos Aires. AR, Jornadas de desarrollo e innovación, 3, Nuevos servicios, Parque Tecnológico Miguelete, 2000 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. 2000. |
Pág./Vol.: | 1p. |
Unidad técnica: | INTI-Química. |
Descriptores: | Análisis cuantitativo; Fluorescencia; Rayos X; Espectrómetros; Métodos de determinación; Azufre; Gasoil; Plomo; Nafta |
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Trabajo de INTI |
Tipo de Docum.: | congreso |
Título: | Estudio y puesta a punto de la técnica de medición de espesores de capas epitaxiales por el método de interferometría infrarroja |
Autor: | Berset, Alberto; Grünhut, Enrique |
Autor Instit.: | INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos. Buenos Aires. AR |
Reunión: | Secretaría de Estado de Ciencia y Tecnología. SECyT. Buenos Aires. AR, Congreso científico del programa nacional de electrónica, La Falda. AR, 1979 |
Idioma: | spa |
Datos de Edición: | Buenos Aires. AR. INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos. 1979. |
Pág./Vol.: | 59p. |
Unidad técnica: | INTI. Sector Materiales, Componentes y Sistemas Electrónicos. |
Descriptores: | Mediciones; Interferometría; Espectros infrarrojos; Películas; Semiconductores; Espectrómetros; Longitud de ondas; Intrumentos de medición; Métodos de cálculo; Errores; Ruido; Factor de reflexión; Nitrógeno; Silicio; Interferencia; Resistencia eléctrica; Conductividad eléctrica |
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Trabajo de INTI |
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Ubicación: | 4605 |
Disponibilidad: | Consulta in situ |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Atomic absorption spectrometry |
Autor: | Cantle, John Edward |
Título Ser./Col.: | Techniques and instrumentation in analytical chemistry ; 5 |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Amsterdam. NL. Elsevier Scientific Publishing . 1982. |
Pág./Vol.: | 448p. |
Descriptores: | Espectroscopia de absorción atómica; Absorción atómica; Espectrometría; Espectrometros; Soluciones acuosas; Gases; Sólidos; Análisis espectroquímico; Atomización; Polímeros; Filtración |
Ubicación: | Córdoba/543.42/At711 |
Disponibilidad: | INTI-Córdoba |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | A practical guide for the preparation of specimens for X-ray fluorescence and X-ray diffraction analysis |
Autor: | Buhrke, Victor E.. ed.; Jenkins, Ron. ed.; Smith, Deane K.. ed. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | New York. US. Wiley-VCH. 1998. |
Pág./Vol.: | 333p. |
Descriptores: | Rayos X; Fluorescencia; Difracción de rayos X; Análisis; Estadística; Dispersión; Errores; Polvo; Aplicaciones; Trituración; Absorción; Cristales; Espectrómetros; Fusión; Líquidos; Soluciones; Manipuleo; Materiales radioactivos; Dolomita; Dióxido de carbono; Calibración; Yeso; Vidrios; Cementos; Materias primas; Metales; Aluminio; Aleaciones; Titanio; Hierro; Aceros; Materiales; Oxido de aluminio; Agua superficial; Aceites; Carbón; Vegetales; Equipamiento; Propiedades; Patrones; Difractometría; Aerosoles; Cerámica; Minerales; Minas; Películas delgadas; Papel; Plásticos; Mediciones; Cámaras; Pulverización; Normalización |
Ubicación: | CEQUIPE/171/Metales y A.Inorgánico |
Disponibilidad: | CEQUIPE |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Computer for spectroscopists |
Autor: | Carrington, R.A.G.. ed. |
Autor Instit.: | Ultraviolet Spectrometry Group |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | London. GB. Adam Hilger. 1974. |
Pág./Vol.: | 275p. |
Descriptores: | Espectroscopía; Computadoras; Sistemas computarizados; Arquitectura de computadoras; Lógica; Lenguajes de programación; Espectrómetros; Inteligencia artificial; Espectroscopía de masa; Análisis de Fourier; Procesamiento de datos; Espectrofotometría; Espectrofotómetros; Espectros infrarrojos |
Ubicación: | CEQUIPE/135/Químicos Finos |
Disponibilidad: | CEQUIPE |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Practical NMR spectroscopy |
Autor: | Martin, Maryvonne L.; Martin, Gerard J.; Delpuech, Jean-Jacques |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | London, GB; Philadelphia, US; Rheine. DE. Heyden. 1980. |
Pág./Vol.: | 460p. |
Descriptores: | Espectroscopía; Resonancia magnética nuclear; Relajación; Ondas; Instrumentos; Espectrómetros; Performance; Especificaciones; Imanes; Electroimanes; Equipos electrónicos; Procesamiento de señales; Transmisores; Receptores; Campo magnético; Frecuencia; Análisis de Fourier; Procesamiento de datos; Muestreo; Celdas; Solventes; Reactivos químicos; Irradiación; Experimentos; Mediciones; Temperatura; Control de la temperatura; Termometría; Intensidad; Análisis cuantitativo; Productos químicos |
Ubicación: | CEQUIPE/76/Químicos Finos |
Disponibilidad: | CEQUIPE |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Understanding XRF spectrometry; a practical guide with worked examples. Volumen 2: Quantitative analysis and special sample preparation and presentation methods |
Autor: | Willis, James P.; Duncan, Andrew R. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Almelo. NL. Panalytical. 2008. |
Pág./Vol.: | pag. varía. |
Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Análisis cuantitativo; Espectrómetros; Química; Espectroscopía; Interferencia; Fluorescencia; Espectros; Cristales; Cristalografía; Trazas de sustancias; Normalización; Métodos de determinación; Errores; Límites de detección; Materiales; Ecuaciones; Concentración; Técnicas matemáticas; Absorción; Fusión; Boratos; Vidrios; Muestreo; Análisis químico; Instrumentos de medición; Geología; Software |
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Ubicación: | CEQUIPE/302/Lab. Metales |
Disponibilidad: | INTI-Química |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Understanding XRF spectrometry; a practical guide with worked examples. Volumen 1: Basic concepts and instrumentation |
Autor: | Willis, James P.; Duncan, Andrew R. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Almelo. NL. Panalytical. 2008. |
Pág./Vol.: | pag. varía. |
Descriptores: | Espectroscopía de rayos X; Rayos X; Espectrómetros; Longitud de onda; Dispersión; Detección; Distribución; Altura; Pulsos; Energía; Absorción; Matrices; Partículas; Análisis cuantitativo; Muestreo; Análisis químico; Instrumentos de medición; Unidades de medición |
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Ubicación: | CEQUIPE/301/Lab. Metales |
Disponibilidad: | INTI-Química |
Tipo de Docum.: | libro |
Título: | Spectrochemical analysis by atomic absorption |
Autor: | Price, W. J. |
Idioma: | eng |
Datos de Edición: | Chichester. GB. Wiley. 1979. |
Pág./Vol.: | 392p. |
Descriptores: | Absorción atómica; Análisis espectroquímico; Mediciones; Espectrofotometría; Espectrómetros; Atomización; Muestreo; Llamas; Atomizadores; Aplicaciones; Unidades de medición; Métodos de análisis; Propiedades físicas; Energía; Espectroscopía; Propiedades químicas; Resonancia |
Ubicación: | 543.42/P9311 |
Disponibilidad: | Préstamo |
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